Electrodeposición de Película de Hierro y su Caracterización Mediante Técnicas Espectroscópicas y Microscopía Electrónica

 

J. Corredor,^1,* G. Jorge,² C. Rojas ¹

 

¹Centro de Microscopía Electrónica, Facultad de Ciencias, UCV, Caracas, Venezuela

²Laboratorio de Electroquímica, Centro de Equilibrios en Solución, Facultad de Ciencias, Universidad Central de Venezuela, Caracas, Venezuela

 

Received 25 April 2008; accepted 15 January 2009

 

Resumen

Empleando la tecnica de cronoamperometria y un bano de sulfato de amonio ferroso, se electrodeposito una pelicula de hierro sobre un electrodo de plata. La caracterizacion de la pelicula de hierro se llevo a cabo usando Microsonda Electronica Analitica (EPMA), Difraccion de Rayos X (DRX) y Espectroscopia Mossbauer de Transmision (TMS). Los resultados obtenidos indicaron que dicha pelicula tenia un espesor aproximado de 20 μm y estaba compuesta, mayoritariamente, por hierro metalico con estructura cristalina bcc. El analisis EPMA indico que la pelicula de hierro presentaba islas de plata de diferentes tamanos, en toda el area.

Palabras clave: electrodeposicion, pelicula de hierro, microsonda electronica (EPMA), Mossbauer.

 

Electrodeposition of Iron Films and their Characterization Using Spectroscopic Techniques and Electron Microscopy

Abstract

Using chronoamperometry technique and a ferrous ammonium sulphate bath, an iron film was electroplated on a silver electrode. The characterization of the iron film was carried out using the analytical Electron Probe for Microanalysis (EPMA), X ray Diffraction (DRX) and Spectroscopy Mössbauer Transmission (TMS). The obtained results indicate that the film had an approximated thickness of 20 μm and it was compound mainly of metallic iron with crystalline structure bcc. Analysis EPMA indicated that the iron film presented islands of silver of different sizes in all the area.

Keywords: electrodeposition, iron film, electronic microsounding, Mössbauer.

 

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References

1. M. Schlesinger, M. Paunovic, Modern Electroplating, 4^th ed., Wiley, New York, NY, 2000, pp. ix and 461.

2. K.V. Gow, G.J. Hutton, Electrochem. Acta 17 (1972) 1797.        [ Links ]

3. S. Yoshimura, S. Yoshihara, T. Shirakashim, E. Sato, Electrochem. Acta 39 (4) (1994) 589.

4. W. Schindler, O. Schneider, J. Kirschner, J. Appl. Phys. 81 (8) (1997) 3915.

5. E.A. Abd El Meguid, S.S. Abd El Rehim, E.M. Moustafa, Thin Solid Films 443 (2003) 53.

6. K.-M. Yin, B.-T. Lin, Surf. Coat. Technol. 78 (1996) 205-210.

7. E. Jartych, D. Chcyk, M. Budzynski, M. Jalochowski, Appl. Surf Sci. 180 (2001) 246.

8. E. Jartych, J.K. Zurawicz, E. Maczka, J. Borc, Mater. Chem. Phys. 72 (2001).

9. E. Jartych, M. Jalochowski, M. Budzynski, Appl. Surf. Sci. 193 (2002) 210.

10. M. Canepa, M. Salvietti, Andrea Campora and L. Mattera, J. Electron Spectroscopy a nd Reladted Phenomena 76 (1995) 471-476.

11. Kai. Sturm, Sebastian Fahler, Hans-Ulrich Krebs, Applied Surface Science 154-155 (2000) 462-466.

12. M. Canepa, P. Cantini, O. Ricciardi, S. Terreni, L. Mattera, Surface Science 429 (1999) 34-45.

13. M.J. Prandolini, T. Phalet, W.D. Brewer, J. Dekoster, P. De Moor, N. Severijns, Schuurmans, B.G. Turrell, A. Van Geert, L. Vanneste, B. Vereecke, S. Versyck, J. Magn. Magn. Mat. 198-199 (1999) 291-293.

14. F. Chemam, A. Bouabellou, R. Halimi, Thin Solid Films 380 (2000) 266-268.

15. F. Chemam, A. Bouabellou, A. Layadi, S. Senoussi, Materials Science and Engineering C19 (2002) 125-128.

16. I. Dézsi, Cs. Fetzer, I. Szucs, B. Degroote, A. Vantomme, T. Kobayashi, A. Nakanishi,  Surface Science 601 (2007)2531.

17. N.C. Koon, B.T. Jonker, F.A. Wolkening, J.J. Krebs, G.A. Prinz, Phys. Rev. Letters 59 (1987) 2463-2466.

18. M. Stampanoni, A. Vaterlaus, M. Aeschlimann, F. Meier, Phys. Rev. Lett. 59 (1987) 2463.

19. J. Araya-Pochet, C.A. Ballantine, J.L. Erskine, Phys. Rev. B. 38 (1988) 7846.

20. W.F. Egelhoff Jr., Jacob, Phys. Rev. Lett. 62 (1989) 921.

21. H. Li, B.P. Tonner, Phys. Rev. B 40 (1989) 10241.

22. H. Li, J. Quinn, D. Tian, J. Sokolov, F. Jona, P.M. Marcus, Phys. Rev. B 42 (1990) 9195.

23. Mössbauer Effect Data Index. 1974. John G. Stevens and Virginia E. Stevens. Pag. 397.

 

* Corresponding author. E-mail address: luidra@yahoo.com